Un novedoso microscopio de resolución nanométrica,
capaz de detectar fisuras y cargas electrónicas invisibles
para un equipo óptico, es desarrollado en la UNAM por especialistas
del Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico
(CCADET).
“Este instrumento tiene ciertas ventajas, porque
permite detectar cargas electrónicas y tiene una alta resolución,
de hasta 10 nanómetros”, explicó Oleg Kolokoltsev,
investigador de la entidad académica.
Mientras en un equipo óptico un microchip electrónico
se ve tan liso como un espejo, en el microscopio de barrido, que
tiene una punta resonante que genera frecuencias de microondas,
se pueden detectar fisuras o concentraciones de materiales, y tener
registro de pequeñísimos transistores hechos de silicio,
con implantación de iones.
Es ideal para la actual era de la nanotecnología,
en la que se fabrican dispositivos cada vez más pequeños
y de alta eficiencia, acotó.
También podrá utilizase en biología,
para investigaciones básicas que indagan cómo funcionan
algunos sistemas naturales que tienen micro o nanoestructuras.
Otra ventaja, detalló Kolokoltsev, es que su ventana
es bastante grande y permite al instrumento “barrer”
un área amplia del objeto en estudio, de dos por dos centímetros.
“Es algo que no existe en el mercado a nivel comercial,
por eso lo desarrollamos en la UNAM. No solamente sirve para ver
algún microchip pequeño, también se
puede crear algo nuevo con su uso”, dijo.
Utiliza un sistema mecánico de alta precisión
que al transferirlo abaratará costos. “Es una plataforma
de nanoprecisión con la que, además de detectar las
características de objetos muy pequeños, podemos hacer
microtornos o nanotornos de sustratos electrónicos”,
añadió.
A su vez, Naser Qureshi, experto en micromecánica
y electrónica, desarrolló cabezas mecánicas
y sondas electromagnéticas, ópticas y de ondas térmicas,
que se pueden intercambiar para lograr un equipo multifuncional.
Con ondas láser, el equipo también puede
realizar trabajo de nanolitografía.
“Le podemos poner luz láser y grabar circuitos
electrónicos a través de fotolitografía de
alta resolución, a un costo más bajo de lo que se
usa comercialmente”, comentó.
Ojo eléctrico de alta definición
“El concepto de microscopio de microondas no es nuevo,
hay varios en el mundo, pero aún no existe comercialmente.
Este equipo tiene algunos elementos nuevos, como las sondas de microondas,
que son una innovación”, apuntó Qureshi.
La novedad es el tipo de sondas de microondas que emplea
y la manera en que se obtiene información física de
las muestras.
Cuenta con una punta resonante sensible a la permitividad
dieléctrica, un parámetro o propiedad fundamental
de los materiales, que detecta cómo se concentra el campo
eléctrico en un material.
“Con el equipo podemos ver cambios en la constante
dieléctrica, de la conductividad y de las propiedades magnéticas.
La idea es un microscopio que ve esas propiedades eléctricas.
Es un ojo eléctrico que observa con muy alta resolución”,
ejemplificó Qureshi.
El primer prototipo incluye electrónica, software
y sistemas electrodinámicos. Aún falta desarrollar
las partes exteriores del equipo, indispensables para facilitar
su uso y avanzar a una etapa de transferencia tecnológica.
Los investigadores calculan que para finales de 2010 tendrán
un equipo terminado, que podrían utilizar varios grupos de
estudio de la propia Universidad Nacional.
